封装测试
 
芯德科技发布CAPiC晶粒及先进封装技术平台
 2023-3-14
 

3月10日,芯德科技先进封装技术研究院发布了CAPiC晶粒及先进封装技术平台。

 

据介绍,本次发布的CAPiC晶粒及先进封装技术平台包括六大核心封装技术,包括高密度重布线扇出结构(FOCT-R)、高密度硅通孔扇出结构(FOCT-S)、重布线及硅基埋入基板扇出结构 (SETiS/RETiS)、叠层芯片扇出结构(TMV-POP)、玻璃基扇出结构(TGV-POP)、树脂/干膜扇出结构(eWLB-F/eWLB-M))。

 

芯德科技总经理潘明东表示,本次发布的技术平台能够提供更多的解决方案,特别是通过高密度的晶圆级RDL集成来降低基板的设计层数,乃至于部分技术可以取代基板的应用。另外,该平台能够帮助客户集成不同工艺功能的芯片,缩短开发周期,进一步降低整体项目开发成本,为半导体行业发展解决了一些共性难题。

 

(JSSIA整理)